OmniScan X4多技术系列仪器是一种功能强大的便携式解决方案，其高速度和多功能性可提升您的工作效率，同时增强您对评估工作的信心。利用其高级相控阵功能、高效的全聚焦方式（TFM） 和创新型相位相干成像（PCI）技术，可以探测和解读具有挑战性的缺陷，并通过更早地识别损伤来确保资产的完整性。

  性能卓越，让人信服每台OmniScan X4仪器堪称一个无所不包的多技术检验测试工具箱，可使您利用多种超声检测技术。利用其检测和测量功能，可在损坏变得严重之前准确识别和评估损坏的严重程度，从而保护那些有可能会出现裂纹或腐蚀的焊缝、部件和资产。

  使用PCI进行可靠评估在探测和突出显示以往难以检测的缺陷时，如钩状裂纹和应力腐蚀开裂（SCC），相位相干成像技术有助于消除疑虑。使用PCI可以清楚地区分细小裂纹群中的单个缺陷，并可靠地进行表征。

  TFM采集率提高了3倍由于OmniScan X4系列仪器解决能力的提升，获得清晰TFM图像的速度比上一代型号（X3 64）快了三倍*。OmniScan X4 64:128PR仪器拥有128个晶片能力，速度更快，可通过其扩展的聚焦功能进行TFM检测。*达到这一速度取决于配置和稀疏发射的使用。详情请咨询。

  采用具有不一样特性的PCI和TFM两种技术，同时从焊缝两侧彻查整个焊缝体积。使用两个探头对焊缝进行一次性扫查，即可显示TFM和PCI结果，以便高效精确地比较、测量和确认缺陷特征。

  设计宗旨是提高速度和简化操作在OmniScan X4系列仪器上可以简单直观地进行相控阵、TOFD、TFM和PCI检测。任何经验水平的检测工作员都可通过这些技术，通过简单的逐步扫查计划和应用预设，提高效率，增强信心。

  OmniScan X4多技术系列仪器是一种功能强大的便携式解决方案，其高速度和多功能性可提升您的工作效率，同时增强您对评估工作的信心。利用其高级相控阵功能、高效的全聚焦方式（TFM） 和创新型相位相干成像（PCI）技术，可以探测和解读具有挑战性的缺陷，并通过更早地识别损伤来确保资产的完整性。

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